Medindo os parâmetros dos JFETs
Embora estes tipos de transistores quase não sejam mais utilizados em novos projetos, quem se dedica ao reparo de aparelhos antigos volta e meia se depara com a necessidade de testá-los e até, às vezes, precisar trocá-los.
Recentemente, uma aluna do meu Curso de Eletrônica Básica se deparou com uma situação destas e teve algumas dúvidas, o que me levou a pensar que valeria a pena destrinchar um pouco mais o assunto não apenas para atendê-la, como faço com todos os meus alunos, mas, quem sabe, as dúvidas dela possam ser as de muita gente por aí que talvez nem saiba que tem dúvida. Ou seja, fica sem entender e deixa para lá.
De um modo geral, os principais problemas são :
1) Como testar um JFET.
2) Como ter certeza de que se comprou um transistor cujos parâmetros são realmente iguais ou próximos aos que estão nos data sheets, nestes tempos em que a falsificação passou a ser a regra e não a exceção.
No meu e-book Testando Componentes Eletrônicos – Volume I, eu apresento um circuito simples que pode ajudar a testar JFETs e MOSFETs e, por isso, vou pular o item 1 e passar a mostrar uma maneira simples para medir os parâmetros IDSS e VGS(OFF) e assim, resolve-se o item 2, uma vez que o testador sugerido só mostra se o transistor está bom ou ruim.
Uma breve explicação sobre IDSS e VGS(OFF)
Antes de passar a prática, vamos entender estes dois parâmetros dos JFETs.
Comecemos dando uma olhada na fig.1 onde temos um recorte do data sheet da NXP para o BF245 com dois destaques marcados nos retângulos vermelhos: VGS(OFF) e IDSS.
Fig. 1- Recorte do data sheet da NXP para o BF245
*Professor de Matemática e Técnico em Eletrônica
